读写器测试系统


读写器测试系统


系统简介


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中科国技根据RFID读写器研发公司的实际需求,研发出一套覆盖读写器性能和射频协议测试的完整测试解决方案。该测试系统在读写器性能测试方面,可快速分析读写器的不同发射功率下的接收灵敏度,评价读写器性能;在读写器射频协议测试方面,该系统可在读写器的FPGA阶段,对读写器通讯信号进行特征分析,获取完整的信号特征数据,快速定位问题所在。


主要特点


1)性能研发测试


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主要特点

  • 多功能射频输出端口

  • 图形化用户界面

  • 支持直连法测试及空口辐射测试

  • 支持监控读写器和标签之间的通信


主要测试参数


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  • 读写器有效辐射功率

  • 读写器接收灵敏度


2)射频协议研发测试


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主要分析参数

  • Parameters:指令参数数据,主要解析信号指令信息;

  • BurstInfo:Burst信息数据,主要判断Burst指令的起至时间和Burst长度;

  • DemodInfo:Burst解调数据,主要解调前向/反向Burst的调制深度、调制方式、上/下过冲、PW时间、反向速率、占空比等信息;

  • RawData:Burst原始数据,主要解调前向/反向Burst的数据长度、编码信息、前导码信息、前导码长度等信息;

  • CWInfo:载波信息,主要分析读写器载波上/下电信息。


主要特点

  • 单仪表式测试,测试便捷、快速

  • 根据信号强度自动设置触发电平,100%捕获通讯信号,无需频谱仪专家操作

  • 完整分析信号特征,问题快速定位

  • 保存IQ原始数据,方便数据对比、共享


Highlight


中科国技长期走在RFID市场第一线,通过与芯片、标签和读写器研发企业以及科研机构合作,深入理解客户在RFID芯片、标签与读写器的设计、生产与销售中遇到的各种挑战,提供专业、快捷的技术支持与服务。

测试系统支持标准:ISO 18000-6CGB/T 29768GJB 7377.1