标签芯片测试系统


标签芯片测试系统


系统简介


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中科国技标签芯片测试系统是一款集控制、测试与分析一体的测试解决方案,包含协议分析测试、覆盖性测试、芯片灵敏度测试三大功能。通常标签芯片研发测试项目众多、测试过程繁杂、结果定位难。而该款标签芯片测试系统能帮助研发人员进行自动化测试,大大缩短研发时间。

协议分析测试主要针对不同命令序列、不同命令参数下标签的响应情况;覆盖性测试则是自动生成大量不同测试组合,对标签进行全参数覆盖测试,快速定位主要问题所在;而芯片灵敏度测试则能自定义测试需求,检测宽频带内标签芯片灵敏度及反射功率变化。


主要特点


1)协议分析测试


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主要测试能力

  • 开放完整的物理层参数,可验证芯片在不同物理层参数配置下的标准符合性

  • 开放完整的协议命令参数,可自由定义协议命令序列,验证芯片状态机跳转

  • IQ数据采集,供测试人员步一进分析协议交互过程的问题

  • 支持国标和行业标准的加密命令测试


2)覆盖性测试


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主要测试能力

  • 自定义测试需求,自动生成数十万量级的测试序列集合

  • 自动化测试,每小时万级的测试速度进行覆盖性验证,无需测试人员值守

  • 测试结果以概率统计的方式雷达图形显示,快速定位问题方向

  • 可导出详细测试报告,以分析参数对测试结果的具体影响


3)芯片灵敏度测试


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主要测试能力

  • 自定义测试需求,检测宽频带内标签芯片灵敏度及反向功率变化;

  • 开放多数物理层及协议层参数,可对标签芯片进行多参数灵敏度测试;

  • 可进行自动化测试路径损耗标准。