• 上海RFID 国际研讨会圆满成功—2013年10月15日

    标签: 中科国技

    中科国技与ICC RFID测试技术研究联合实验室于10月15日在上海ICC大楼胜利举办了“RFID国际研讨会:标签设计、生产及测试中的新技术”。

    Mon Apr 28 10:03:18 GMT+08:00 2014